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Nicomp 380 Z3000 Plus 纳米粒径与Zeta电位分析仪
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Nicomp 380 Z3000 Plus 纳米粒径与Zeta电位分析仪
Nicomp 380 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 基本信息仪器型号:Z3000 Plus 工作原理: 粒度分布:动态光散射(Dynamic Light
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Nicomp 380 Z3000 Basic zeta电位及纳米粒度仪
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Nicomp 380 Z3000 Basic 纳米粒度仪及Zeta电位分
Scattering, DELS) 检测范围:粒径范围:0.3nm-10.0μmZETA电位: +/- 500mV Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典
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Nicomp 380 Z3000 纳米粒度及ZETA电位分析仪
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Nicomp 380 Z3000 Standard 纳米粒径与Zeta电位分析仪
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美国PSS纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000
纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射
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安东帕SurPASS固体表面ZETA电位测量仪
拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 固体电运动分析仪/ 固体表面ZETA 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 技术参数: 测量范围
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安东帕SurPASS 3固体表面 Zeta 电位分析仪
在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中zei微小的
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